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產品名稱:中國區(qū)總代 KOBRA‐ HBPR偏光測定裝置 OSI王子計測
產品型號:KOBRA‐ HBPR
產品廠商:OSI王子計測
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簡單介紹:
相位差測定裝置 KOBRA系列 從過去,但分子取向評價由于雙折射進行,使用折射計和偏振光顯微鏡費時的測量,這是相當難以準確地測量。 中國區(qū)總代 KOBRA‐ HBPR偏光測定裝置 OSI王子計測 KOBRA系列可以通過簡單的操作快速而準確地測量相位差,雙折射,方位角(折射率的*大方向)。 中國區(qū)總代 KOBRA‐ HBPR偏光測定裝置 OSI王子計測
詳情介紹:
相位差測定裝置
KOBRA系列
從過去,但分子取向評價由于雙折射進行,使用折射計和偏振光顯微鏡費時的測量,這是相當難以準確地測量。
KOBRA系列
可以通過簡單的操作快速而準確地測量相位差,雙折射,方位角(折射率的方向)。
1.測量范圍寬···1nm?2·
高重復性··±1nm·
優(yōu)異的操作性
4。實現(xiàn)軟件
中國區(qū)總代 OSI王子計測 KOBRA-HB 相位差橢圓測量裝置 OSI王子計測
測量對象:
■延遲膜,Placel,偏光板
■光盤
■液晶盒
■磁帶基膜
■收縮膜
■其他通用膜
應用:
■研究和光學功能膜的開發(fā),質量控制
■拉伸膜(三維折射率,表面取向)的取向評價
■包裝膜的熱收縮,抗撕裂性的評價等
■液晶單元,所述波長分散性的評價的扭曲角
■光學元件的透射橢圓偏振光的評價
設備名稱
相位差/橢圓
測量裝置
橢圓偏振測量裝置
相位差測量裝置
帶有進樣
器的相位差測量裝置
設備類型
KOBRA-HB系列
KOBRA-WPR
KOBRA-WR
KOBRA-WFD
測量方法
平行尼科爾旋轉方法
旋轉偏振器法
平行尼科爾光譜法
平行尼科爾旋轉法
旋轉式偏振片法
平行尼科爾旋轉方法
平行尼科爾旋轉方法
測量波長
450,500,550,590,630,680nm 400-800nm
(光譜學)
450,500,550,590,630,750nm
樣本大小
垂直入射角測定:30mm見方以上
入射角依存性:30mm?40×50mm,t 3以下
輪廓測量:
寬度50mm×長度可選
入射角依賴性:
30mm至40
×50mm
,
t 3或更小
測量區(qū)域
33毫米
2
(5.8毫米角:Jukoko面積)
φ0.8mm(光譜學)
33毫米
2
(5.8毫米角:Jukoko面積)
軟件名稱
KOBRA-RE
KOBRA-PR
KOBRA-TW
KOBRA-RE
KOBRA - DSP / FD
KOBRA - RE
測量項目
面內延遲測量
入射角依賴
波長色散特性
橢圓偏振測量
扭曲角測量
測試模式
面內延遲測量
入射角依賴
波長色散特性
相位剖面
入射角依賴
波長色散特性
設備名稱
用于長樣本的相位差測量裝置
相位差測量裝置
的偏光板
在線相位差計
在線相位差計
設備類型
KOBRA-WX ***
系列
KOBRA-WX *** / IR
系列
KOBRA-WI系列
KOBRA-WIS / RT
測量方法
平行尼科爾旋轉方法
平行尼科爾旋轉方法
平行尼科爾旋轉方法
平行尼科爾旋轉方法
測量波長
450,550,590,650nm
850,900,950,1000,1050,1100nm
590納米
樣本大小
取決于樣本階段
測量區(qū)域
33毫米
2
(5.8毫米角:Jukoko面積)
軟件名稱
KOBRA-DSP / X
KOBRA-DSP / XIR
測量項目
相位差和方位角
分布
PVA基材和碘的延遲譜
相位差
相位差,方位角(Rth)
設備名稱
微區(qū)
相差測量裝置
相位差分布測量裝置
微區(qū)
橢圓計
一般膠片
在線相位差計
設備類型
KOBRA-CCD
KOBRA-IMS
SAPA
KOBRA-WI / SPC
測量方法
平行尼科爾旋轉方法
平行尼科爾光譜學
旋轉分析儀的方法
平行尼科爾光譜學
測量波長
590納米
樣本大小
測量區(qū)域
軟件名稱
測量項目
相位差分布,取向角分布
相位差分布,取向角分布的輪廓
相位差
相位差
中國區(qū)總代 OSI王子計測 KOBRA-HB 相位差橢圓測量裝置 OSI王子計測
設備名稱
極化方位測量儀
管
雙折射測量裝置
超高相位差測量裝置
便攜式橢圓偏振
測量裝置
設備類型
PAM-P 100
PAM-IMS 100
PAM-UHR 100
PAM-PTB 100
測量方法
平行尼科爾光譜學
平行尼科爾光譜學
旋轉分析儀的方法
測量波長
590納米
樣本大小
透明管,纖維,單軸拉伸膜
□40毫米,3毫米或更少
測量區(qū)域
天然發(fā)光體如面板
軟件名稱
測量項目
偏振方位角,透射率
相位差
相位差,方向角,雙折射
橢圓,橢圓形方位角
中國區(qū)總代 OSI王子計測 KOBRA-HB 相位差橢圓測量裝置 OSI王子計測
設備名稱
光軸測量裝置
設備類型
PAM-PR 300
測量方法
旋轉偏振片法
平行尼科耳旋轉法
正交尼科耳旋轉法
測量波長
590nm
選項:
450nm,630nm
樣本大小
□30?250mm
20mm厚度以下
測量區(qū)域
33
平方毫米(5.8平方毫米:光接收器表面)
軟件名稱
測量項目
偏振軸,方位角,相位差
此外,還有專門用于面內相位差測量的KOBRA - WR 0和KOBRA - WPR 0型號,沒有樣品傾角功能。
此外,KOBRA - WRXY和KOBRA - WPRXY配備了自動XY工作臺(行程200 x 200毫米)在KOBRA - WR和KOBRA - WPR也可用。
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